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干涉鏡頭
采用通過樣品內和樣品外的相干光束產生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉換為振幅（光強度）變化的物鏡。分辨樣品中的結構，并可測定樣品中一定區域內的相位差或光程差。
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實時顯示
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無損檢測
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軟件專業
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重復性高
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配件多樣
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堅固耐磨
產品特色 /實驗內容
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產品簡介 干涉測量鏡頭可用在非接觸光學壓型測量設備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個波長內。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結合，就產生了干涉圖案。 與Mirau鏡頭比起來，Michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機上。 | 應用范圍 用于三維表面形貌儀，表面輪廓儀，白光干涉顯微鏡等測量設備的鏡頭。 適用型號： MicroXAM系列、Newview7000系列、Newview8000系列， Wyko各型號、Contour Elite系列、ContourGT系列、 Talysurf系列、SMARTWLI系列等， 幾乎所有的白光干涉原理非接觸式表面三維形貌測量儀。 |
型號類別 包含多型號： 2.5xNikon干涉鏡頭 5xNikon干涉物鏡 10xNikon白光干涉鏡頭 20xNikon非接觸干涉鏡頭 50xNikon相干測量物鏡 100x尼康 CF IC Epi Plan 鏡頭 |
產品參數
包含多型號：
2.5xNikon干涉鏡頭
5xNikon干涉物鏡
10xNikon白光干涉鏡頭
20xNikon非接觸干涉鏡頭
50xNikon相干測量物鏡
100x尼康 CF IC Epi Plan 鏡頭
